联讯仪器取得芯片测试机相关专利,同盘同步完成芯片上下料以提升测试效率
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2026-08-29 10:35:51

8月29日消息,国家知识产权局信息显示,苏州联讯仪器股份有限公司申请一项名为“一种芯片测试机及芯片测试设备”的专利,授权公告号CN224696027U,授权公告日为2026年8月28日。申请号为CN202521857853.7,申请公布日期为2026年8月28日,申请日期为2025年8月29日,发明人孙成扬,专利代理机构苏州创智高诺知识产权代理有限公司,专利代理师叶栋,分类号G01R31/28、G01R1/04、G01R1/02、B65G47/91、B65G35/00、B65G37/02。

专利摘要显示,本实用新型提供了一种芯片测试机及芯片测试设备,涉及芯片测试技术领域。本实用新型中输送盘具有第一区域和第二区域,且用于承载被测芯片,测试基座设置成受控地朝向探针座移动至测试位,并使得测试芯片与探针卡接触。输送机构的中转通道的一端布置于探测座与芯片上下料机之间,中转通道的另一端与吸附组件对接,输送盘能够在中转通道上移动。吸附组件用于将测试基座上完成测试的被测芯片搬运至第二区域,并将第一区域上待测试的被测芯片搬运至测试基座。上述技术方案中被测芯片的上料和下料均采用同一个输送盘,输送盘输送一次就可以完成芯片测试机的上料和下料,可以减少输送次数,提高芯片的测试效率。

联讯仪器成立于2017年3月15日,于2026年4月24日登陆上海证券交易所,注册及办公地点均位于江苏省苏州市,是国内领先的电子与半导体测试设备厂商,拥有深厚技术壁垒。

联讯仪器主营业务为电子测量仪器和半导体测试设备的研发、制造、销售及服务,申万行业分类隶属于机械设备-通用设备-仪器仪表,核心概念覆盖功率半导体、专精特新、筹码集中100三大板块。

2026年上半年,联讯仪器实现营业收入15.31亿元,在63家同行业企业中排名第4,仅次于川仪股份的34.18亿元、咸亨国际的20.14亿元,远超行业4.79亿元的平均水平与2.59亿元的行业中位数;同期实现净利润5.67亿元,位列63家同行业企业首位,大幅领先第二名川仪股份的2.87亿元,较行业3730.82万元的平均数、1889.97万元的中位数形成显著优势。

指标类型 具体指标 联讯仪器当期数值 行业排名/总家数 行业头部对标企业数值 行业平均水平 行业中位数水平
营收指标 2026年上半年营业收入 15.31亿元 4/63 第一名川仪股份34.18亿元、第二名咸亨国际20.14亿元 4.79亿元 2.59亿元
利润指标 2026年上半年净利润 5.67亿元 1/63 第二名川仪股份2.87亿元 3730.82万元 1889.97万元

苏州联讯仪器股份有限公司近期专利情况如下:

序号专利名称专利类型法律状态申请号申请日期公开(公告)号公开(公告)日期发明人
1应用于波形发生器的信号同步方法、装置和波形发生器发明专利实质审查的生效、公布CN202611033906.22026-07-13CN122526373A2026-08-07廉哲、潘朝松、曹勋、张德超、赵苏晓
2数据处理方法、装置、电子设备及存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202611020102.92026-07-09CN122527683A2026-08-07汤鑫、焦健、生兆东
3一种均衡器抽头系数确定方法及装置发明专利实质审查的生效、公布CN202610974517.32026-07-01CN122513228A2026-08-04焦健、汤鑫、生兆东
4一种多测量单元虚拟化管理方法及装置发明专利公布CN202610939023.12026-06-26CN122450576A2026-07-24栗世尧、胡国锋、邱亮、李甲福、潘朝松、朱亦鸣
5一种多测量单元添加方法、装置、电子设备及存储介质发明专利公布CN202610939025.02026-06-26CN122489158A2026-07-31栗世尧、胡国锋、邱亮、李甲福、潘朝松、朱亦鸣
6采样示波器的时基校准方法、系统、电子设备及存储介质发明专利公布CN202610909668.02026-06-23CN122430767A2026-07-21赵嘉成、段庆武
7一种芯片测试设备、芯片测试系统及控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610743383.42026-05-27CN122525338A2026-08-07金鹏、李大伦
8一种芯片测试的对位装置、测试设备及控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610743381.52026-05-27CN122525337A2026-08-07金鹏、李大伦
9一种硅光测试设备及控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610543409.02026-04-23CN122410269A2026-07-17罗跃浩、潘朝松、徐立、李甲福
10一种时序对齐方法、装置、介质及设备发明专利授权CN202610438320.82026-04-03CN121967941B2026-07-07彭兴贵、梁可、邵毅男、孙剑辉、祁言
11时序对齐方法、装置、介质及设备发明专利授权CN202610438312.32026-04-03CN121967940B2026-07-07梁可、彭兴贵、邵毅男、赵品彰、冯亮
12一种菜单侧边栏的目标控件控制方法及装置发明专利实质审查的生效、公布CN202610418457.72026-04-01CN121957442A2026-05-01胡靖民、邵毅男、廉哲、赵品彰、孙剑辉
13一种延时补偿方法、装置、电子设备及存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610414831.62026-03-31CN122339474A2026-07-03邱建硕、生兆东、陈晓东
14一种器件测试方法、设备、装置及存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610393786.02026-03-27CN122345771A2026-07-07徐立、潘朝松、张驾祥、曹勋、李甲福
15一种导热介质的状态检测方法及装置发明专利实质审查的生效、公布CN202610360913.72026-03-24CN122150319A2026-06-05王雪松、邓仁辉、邵毅男
16一种基于微弱信号处理的阻抗测量装置及方法发明专利授权CN202610345877.72026-03-20CN121878282B2026-07-07邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松
17一种阻抗测量装置及方法发明专利授权CN202610345874.32026-03-20CN121878281B2026-07-07邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松
18一种基于微弱电流测量的阻抗测量装置及方法发明专利授权CN202610345880.92026-03-20CN121878283B2026-07-07邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松
19一种信号均衡方法、装置及电子设备发明专利授权CN202610281681.62026-03-10CN121814517B2026-05-08汤鑫、焦健、生兆东、赵品彰、孙剑辉
20一种高速线缆误码测试机发明专利实质审查的生效、公布CN202610282297.82026-03-10CN122026953A2026-05-12邓仁辉、刘严、邵毅男、廉哲
21误码率测试仪器外观专利授权CN202630103721.92026-03-10CN310175771S2026-08-28邓仁辉、刘严、邵毅男、廉哲
22应用于误码仪的自适应均衡方法、装置、介质及设备发明专利实质审查的生效、公布CN202610268192.72026-03-06CN121792445A2026-04-03董成龙、胡靖民、赵品彰、孙剑辉
23一种阻抗测量系统及阻抗测量方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610272361.42026-03-06CN121933812A2026-04-28廉哲、潘朝松、曹勋、贺江云
24一种超景深图像融合方法、装置、设备和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610258831.12026-03-04CN122175801A2026-06-09周月明、孙志青
25一种芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202610196778.72026-02-11CN121721469A2026-03-24李大伦、金鹏
26一种源测量电路以及电压输出方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610188262.82026-02-10CN121955486A2026-05-01夏少俊
27校准模型建立方法、装置、设备、介质及仪表校准方法发明专利授权CN202610192131.72026-02-10CN121683297B2026-05-15王古龙、杜佳伟
28光模块误码测试装置外观专利授权CN202530758900.12025-12-23CN310079294S2026-07-10邓仁辉、邵毅男、廉哲
29一种芯片测试系统的控制方法及芯片测试系统发明专利实质审查的生效、公布CN202511652101.12025-11-12CN121454284A2026-02-03赵山、赵子闯、王飞、谢智寅
30一种COC芯片的测试系统及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511636002.42025-11-10CN121470122A2026-02-06徐兴超
31一种用于COC芯片的上下料机发明专利授权CN202511636008.12025-11-10CN121448818B2026-08-28徐兴超
32一种COC芯片的测试设备发明专利授权CN202511636004.32025-11-10CN121493589B2026-08-28徐兴超
33一种用于芯片的测试夹具及老化设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511619038.12025-11-06CN121142115A2025-12-16张爱林、郭孝明、徐鹏嵩
34一种示波器上位机的信息显示方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511619052.12025-11-06CN122195546A2026-06-12吴皓杰、生兆东、袁保阳
35应用于数字带宽交织采样的触发方法、触发器、介质及设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511611352.52025-11-05CN122204236A2026-06-12尚军伟、周林达、生兆东、廉哲
36一种芯片定位方法、系统及芯片位置矫正装置发明专利实质审查的生效、公布CN202511584534.82025-10-31CN121120782A2025-12-12赵山、施志虎、孙成扬、戈明康
37一种芯片测试设备发明专利公布CN202511584539.02025-10-31CN121142281A2025-12-16赵山、孙成扬、施志虎
38一种芯片AOI检测设备和芯片测试设备发明专利公布CN202511584533.32025-10-31CN121207970A2025-12-26任鸿昌、施志虎、孙成扬
39一种芯片搬运装置及芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511581612.92025-10-31CN121247341A2026-01-02施志虎、文根发、孙成扬、赵山
40一种芯片吸附设备、芯片测试系统及控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511584537.12025-10-31CN121419599A2026-01-27赵山、孙成扬、施志虎
41一种半导体测试设备、光电对位方法以及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511562197.22025-10-29CN121454266A2026-02-03施志虎、赵山、孙成扬
42一种自适应调节的不平衡供电电路、方法及精密源表发明专利实质审查的生效、公布CN202511425995.02025-09-30CN121097615A2025-12-09王玉杰、孙旭
43一种数据处理方法、装置及电子设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511419500.32025-09-30CN122195788A2026-06-12匡恒、生兆东、廉哲
44一种器件测试方法、装置、电子设备及存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511306559.12025-09-12CN121143881A2025-12-16李甲福、潘朝松、林甲威、徐立
45一种光模块误码率测试设备发明专利授权、实质审查的生效CN202511259617.X2025-09-04CN120811479B2025-11-18邓仁辉、邵毅男、廉哲
46一种老化测试设备的压接装置及老化测试设备实用新型授权CN202521903834.32025-09-04CN224696028U2026-08-28吴从、徐兴超
47一种tray盘上下料装置及其控制方法和芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511227197.72025-08-29CN120736214A2025-10-03孙成扬、任鸿昌
48一种晶圆上下料机、芯片测试设备及其控制方法发明专利授权、公布CN202511227566.22025-08-29CN120717207B2025-10-31孙成扬
49tray盘上下料机、芯片测试设备及控制方法发明专利授权、公布CN202511227514.52025-08-29CN120717206B2025-10-31孙成扬、施志虎
50一种芯片测试机及芯片测试设备发明专利公布CN202511227676.92025-08-29CN120971936A2025-11-18孙成扬

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