中安电子取得被动水冷板相关专利,用于IGBT测试,提高热交换效率防局部过热
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2026-07-04 10:56:28

7月4日消息,国家知识产权局信息显示,杭州中安电子股份有限公司申请一项名为“一种被动水冷板及水冷测试装置”的专利,授权公告号CN224456794U,授权公告日为2026年7月3日。申请号为CN202521159628.6,申请公布日期为2026年7月3日,申请日期为2025年6月9日,发明人王晨光、柴俊标、卜予城、卜建明、余亮、贺庭玉、廖剑,专利代理机构杭州浙言专利代理事务所(普通合伙),专利代理师李璐,分类号G01R1/02、G01R31/26、H05K7/20。

专利摘要显示,本实用新型涉及水冷测试装置,公开了一种被动水冷板及水冷测试装置,用于IGBT器件被动热循环测试中,包括被动水冷板本体,其所述的被动水冷板本体内包括水冷板流道层和水冷板加热层;所述的水冷板的流道层内设有第一导流腔和第二导流腔;第一导流腔放置有S形的第一导流板单元,第二导流腔内放置有S形的第二导流板单元。本实用新型通过设置S形的导流板单元形;成两个独立而又相互连通的循环回路。这种设计增加了水道长度,延长了冷却液与冷热板的接触时间,提高了热交换效率。同时,S形结构使得冷却液在冷热板内部分布更加均匀,有效避免了局部温度过高的问题。

天眼查数据显示,杭州中安电子股份有限公司成立日期1999年8月24日,法定代表人卜建明,所属行业为仪器仪表制造业,企业规模为小型,注册资本3374.9976万人民币,实缴资本3374.9976万人民币,注册地址为浙江省杭州市余杭区余杭街道圣地路6号2幢。杭州中安电子股份有限公司共对外投资了3家企业,参与招投标项目256次,财产线索方面有商标信息3条,专利信息80条,拥有行政许可21个。

杭州中安电子股份有限公司近期专利情况如下:

序号专利名称专利类型法律状态申请号申请日期公开(公告)号公开(公告)日期发明人
1一种实时计算Rdson的方法及装置发明专利实质审查的生效、公布CN202610681172.22026-05-18CN122218443A2026-06-16胡世松、牛振、卜予城、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮
2一种新型自动复位夹具发明专利公布CN202610660131.52026-05-14CN122283204A2026-06-26胡世松、邓秋实、马靖轩、卜予城、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮
3一种半导体器件的测试装置发明专利公布CN202610083692.32026-01-22CN121917934A2026-04-24卜予城、沈东、罗雪峰、何仁杰、王晨光、柴俊标、卜建明、余亮、廖剑、贺庭玉、黄珽瑮
4一种交流HPD测试系统实用新型授权CN202521209378.22025-06-13CN224456936U2026-07-03王怀伟、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
5一种被动水冷板及水冷测试装置实用新型授权CN202521159628.62025-06-09CN224456794U2026-07-03王晨光、柴俊标、卜予城、卜建明、余亮、贺庭玉、廖剑
6一种用于水冷板的测试系统实用新型授权CN202521159883.02025-06-09CN224456795U2026-07-03王晨光、柴俊标、卜予城、卜建明、余亮、贺庭玉、廖剑
7一种无功老化的测试线路发明专利实质审查的生效、公布CN202510662985.22025-05-22CN120490643A2025-08-15柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、卜予城
8无功老化测试设备外观专利授权CN202530274528.72025-05-16CN309665871S2025-12-12卜予城、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、叶乐
9晶圆老化测试设备外观专利授权CN202530274489.02025-05-16CN309744968S2026-01-23卜予城、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、叶乐
10一种模块老化测试单元实用新型授权CN202520963475.42025-05-16CN224231896U2026-05-12王天恩、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
11一种能馈型DC/DC试验方法和装置发明专利实质审查的生效、实质审查的生效、公布CN202510273770.12025-03-10CN120103205A2025-06-06翁锡龙、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
12一种适用于半导体行业的模温机实用新型授权CN202520033907.12025-01-08CN223582385U2025-11-21李吉雷、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
13一种低杂感无功功率器件测试装置实用新型授权CN202520033788.X2025-01-08CN223842063U2026-01-27姜景帅、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
14一种晶圆老化测试装置发明专利实质审查的生效、公布CN202510022075.82025-01-07CN119556113A2025-03-04周玉军、左小波、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
15一种用于晶圆老化测试的夹具发明专利实质审查的生效、公布CN202510022272.X2025-01-07CN119689220A2025-03-25周玉军、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
16一种用于晶圆老化的测试台实用新型授权CN202520031456.82025-01-07CN223796648U2026-01-13左小波、周玉军、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
17一种用于加热及吸附晶圆的载台实用新型授权CN202520031031.72025-01-07CN223841959U2026-01-27周玉军、左小波、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
18一种晶圆老化测试装置实用新型授权CN202520030850.X2025-01-07CN223842073U2026-01-27林泽涛、李吉雷、周玉军、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
19一种用于晶圆老化测试的夹具实用新型授权CN202520031279.32025-01-07CN224066936U2026-03-31周玉军、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
20一种自适应温度控制方法及装置发明专利实质审查的生效、公布CN202411888717.42024-12-20CN119717957A2025-03-28胡世松、柴俊标、卜建明、卜予城
21一种控制三相桥的信号生成方法发明专利实质审查的生效、实质审查的生效、公布CN202411545633.02024-11-01CN119420223A2025-02-11柴俊标、卜予城、卜建明、余亮、廖剑、贺庭玉
22一种高温经时击穿试验装置实用新型授权CN202421938618.82024-08-09CN223217605U2025-08-12卜予城、王怀伟、卜建明、柴俊标、贺庭玉、廖剑、余亮
23一种芯片测试设备及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202410702191.X2024-06-01CN118549426A2024-08-27沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
24一种芯片编带装置实用新型授权CN202421117672.62024-05-21CN222522930U2025-02-25沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
25一种料盘移动装置实用新型授权CN202421125449.62024-05-21CN222646985U2025-03-21沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
26一种芯片老化测试安装装置实用新型授权CN202421137759.X2024-05-21CN222719669U2025-04-04沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
27一种IGBT模块无功功率的测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202410199456.92024-02-23CN118625082A2024-09-10郑昌平、柴俊标、卜建明、廖剑、余亮、卜予城
28SIC模块大电流测试电路发明专利实质审查的生效、公布CN202311868677.22023-12-29CN117878826A2024-04-12郑昌平、柴俊标、卜建明、廖剑、余亮、卜予城
29一种IGBT模块的测试装置实用新型授权CN202323562385.42023-12-26CN221631587U2024-08-30林曙亮、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
30一种多路NTC采集线路发明专利实质审查的生效、公布CN202311670344.92023-12-07CN117629446A2024-03-01翁锡龙、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
31一种微波控制板自动校准装置实用新型授权CN202323217083.32023-11-28CN221101310U2024-06-07黄珽瑮、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
32多应力加速试验分析方法、电子设备和可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202311526277.32023-11-16CN117252040B2024-02-06胡世松、黄厚超、方作宾、方小阳、陈鹏、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、卜予城
33一种晶圆上下料机及校准方法发明专利实质审查的生效、公布CN202311471154.42023-11-06CN117607647A2024-02-27马雨雷、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、卜予城、胡世松
34高低温试验箱外观专利授权CN202330662091.52023-10-13CN308592636S2024-04-19卜建明、周玉军、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、叶乐、卜予城、吴涓
35一种用于电容器的老练试验设备实用新型授权CN202322744323.92023-10-13CN220983409U2024-05-17林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
36一种风冷大功率电源模块的试验装置实用新型授权CN202322733461.72023-10-12CN221303534U2024-07-09翁锡龙、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
37一种K系数测试仪实用新型授权CN202322721251.62023-10-11CN221261032U2024-07-02陈承静、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
38一种带夹断功能的SiC单元及老化测试装置实用新型授权CN202322691409.X2023-10-08CN221765600U2024-09-24轩艳文、王怀伟、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
39一种滤波器实验测试装置实用新型授权CN202322551878.12023-09-20CN221595130U2024-08-23高广奎、周玉军、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮
40一种高速ADC/DAC的测试系统及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202311179870.52023-09-13CN117572195A2024-02-20谭玉龙、杨坦、周玉军、方小阳、柴俊标、胡世松、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮
41晶圆老化测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202311069392.22023-08-24CN116774019A2023-09-19卜建明、林泽涛、林曙亮、柴俊标、胡世松、余亮、廖剑、贺庭玉、叶向宏
42基于SiC功率器件的测试系统和方法发明专利实质审查的生效、公布CN202310655926.32023-06-05CN116520122A2023-08-01杜磊、柴俊标、贺庭玉、余亮、廖剑、卜建明
43一种数字IC芯片的功能测试的方法和系统发明专利实质审查的生效、公布CN202310580672.32023-05-22CN116660734A2023-08-29杨坦、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、谭玉龙
44一种微波器件的结温控制系统和方法发明专利实质审查的生效、公布CN202310525841.32023-05-08CN116520059A2023-08-01卜建明、马杨波、柴俊标、胡世松、贺庭玉、廖剑、余亮
45一种GaN功率循环测试系统及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202310387221.82023-04-06CN116679180A2023-09-01柴俊标、叶向宏、卜建明、余亮、廖剑、贺庭玉
46一种高压大电流的动态老化测试系统实用新型专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权CN202320490150.X2023-03-15CN219552493U2023-08-18陈承静、卜建明、廖剑、余亮、柴俊标、贺庭玉
47自动开关门试验箱外观专利专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权CN202330108226.32023-03-10CN308226995S2023-09-15周玉军、余亮、卜建明
48一种裸芯级恒温密闭装置发明专利实质审查的生效、公布CN202310202567.62023-02-24CN116184170A2023-05-30柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮
49基于GaN器件DHTOL试验测试方法和装置发明专利实质审查的生效、公布CN202310194884.82023-02-24CN116466204A2023-07-21陈承静、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮
50一种双面水冷负压夹具发明专利授权CN202310059285.52023-01-18CN116298406B2025-12-12周玉军、柴俊标、贺庭玉、廖剑、余亮

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