广立微取得单向扫描法相关专利,单向扫描法用于版图参数提取,提升扫描效率
创始人
2026-07-04 10:41:19

7月4日消息,国家知识产权局信息显示,杭州广立微电子股份有限公司申请一项名为“单向扫描方法、装置、存储介质和仿真方法”的专利,授权公告号CN121615594B,授权公告日为2026年7月3日。申请公布号为CN121615594A,申请号为CN202610131140.5,申请公布日期为2026年7月3日,申请日期为2026年1月30日,发明人王雁叶、张永博、徐海达,专利代理机构杭州华进联浙知识产权代理有限公司,专利代理师禹青,分类号G06F30/398、G06F30/392、G06V30/422。

专利摘要显示,本申请涉及一种单向扫描方法、装置、存储介质和仿真方法,用于版图特征参数提取,该方法包括:扫描版图中的所有多边形,记录多边形的顶点坐标,并保留多边形的竖直边和斜边;遍历多边形的斜边,获取斜边与竖直边的交点坐标以及斜边与斜边的交点坐标;将获取的所有坐标经过去重和排序后确定扫描节点,相邻两个扫描节点之间的区域构成扫描区域;分别对扫描区域沿着第一轴方向扫描,根据多边形布尔处理的结果,保留所有扫描区域的有效结果边,并根据相邻扫描区域的有效结果边的配对情况构建有效结果边链表;基于有效结果边链表,整理得到结果多边形,作为版图中多边形布尔处理的结果。其通过有效结果边及其链表的管理,提升版图图形扫描处理效率。

广立微成立于2003年8月12日,于2022年8月5日在深圳证券交易所上市,注册地址和办公地址均为浙江省杭州市。它是国内领先的集成电路EDA软件和晶圆级电性测试设备供应商,具备全产业链技术优势。

广立微主营业务为集成电路EDA软件和晶圆级电性测试设备的设计、开发、服务,所属申万行业为计算机 - 软件开发 - 垂直应用软件,所属概念板块有昨日高振幅、集成电路、第三代半导体。

2025年,广立微实现营业收入7.35亿元,在101家公司中排名49,远低于行业第一名上海钢联的706.93亿元和第二名德赛西威的325.57亿元,高于行业中位数6.31亿元,但低于行业平均数24.42亿元。其主营业务中,测试设备及配件收入4.53亿元,占比61.68%;软件开发及授权收入2.78亿元,占比37.84%;测试服务及其他收入355.59万元,占比0.48%。净利润方面,2025年为8732.2万元,行业排名23,低于第一名同花顺的32.05亿元和第二名德赛西威的24.73亿元,高于行业平均数5012.8万元和中位数2041.72万元。

杭州广立微电子股份有限公司近期专利情况如下:

序号专利名称专利类型法律状态申请号申请日期公开(公告)号公开(公告)日期发明人
1一种金属表面沉积形貌的仿真方法、装置和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610628188.72026-05-09CN122154629A2026-06-05谢煜威、邢华林
2高精度可寻址环形振荡器测试芯片、方法、装置和介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610466440.92026-04-10CN122109689A2026-05-29杨璐丹、俞姚杰、蓝帆、应迪、李猛超、郑勇军
3单向扫描方法、装置、存储介质和仿真方法发明专利授权CN202610131140.52026-01-30CN121615594B2026-07-03王雁叶、张永博、徐海达
4一种半导体数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610100712.32026-01-26CN121984514A2026-05-05金培源、陈小川、邵康鹏
5仿真软件测试方法、计算机设备、存储介质和程序产品发明专利实质审查的生效、公布CN202610102887.82026-01-26CN122174783A2026-06-09邢华林、谢煜威、吴徐伟
6片上可寻址的晶体管测试电路及方法、装置、芯片和介质发明专利公布CN202512053326.12025-12-31CN121831442A2026-04-10施姣、杨璐丹、尤炎
7一种晶圆图像的标尺识别方法、系统和可读存储介质发明专利公布CN202512037948.52025-12-31CN121838169A2026-04-10林郁昊、姜辉、王啸飞
8一种图像聚类方法、系统和可读存储介质发明专利公布CN202512036200.32025-12-31CN121837680A2026-04-10王啸飞、姜辉
9自动化测试方法、计算机设备、可读存储介质和程序产品发明专利实质审查的生效、公布CN202512052207.42025-12-31CN121858289A2026-04-14黄倩滨、吴徐伟、代明杨
10一种图像缺陷检测方法、系统和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511869626.02025-12-11CN121353267A2026-01-16林立恒、姜辉、叶倩倩
11片上测试电路及其设计与测试方法、装置、芯片和介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511826641.72025-12-05CN121500066A2026-02-10罗惠元、郑琳、蓝帆、王山川、王同营
12并行测试方法及模块信息转换方法、装置和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511826889.32025-12-05CN121613289A2026-03-06王琦、毛俊
13基于失效模式的测试芯片设计方法、装置、介质和芯片发明专利实质审查的生效、公布CN202511397346.42025-09-28CN121189256A2025-12-23施姣、杨璐丹、瞿屹超
14一种数字电路的仿真方法、装置、系统、设备和介质发明专利公布CN202510871865.32025-06-26CN120832857A2025-10-24彭华晨、连海鹏、王名洺、邵哲青、任杰
15面向电路可测试性的设计规则检查方法、装置和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202510872134.02025-06-26CN120850942A2025-10-28董彦璐、任杰
16扫描链重组方法、装置、设备和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202510833484.62025-06-20CN121303022A2026-01-09连海鹏、任杰
17低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备发明专利授权、公布CN202510766209.72025-06-10CN120294544B2025-09-16王瀚锌
18DRC测试结果验证方法、装置、设备和存储介质发明专利授权、实质审查的生效CN202510758113.62025-06-09CN120278095B2025-11-18张鹏飞
19芯片的时钟信号生成方法、电路和计算机可读存储介质发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202510707329.X2025-05-29CN120215627A2025-06-27曾冉冉、蓝帆、潘伟伟、王山川
20芯片读写能力测试设备、方法、可读存储介质和系统发明专利授权CN202510706792.22025-05-29CN120236642B2025-11-18王山川、蓝帆、俞姚杰
21存储芯片和半导体测试系统发明专利授权CN202510707791.X2025-05-29CN120236643B2025-11-25王山川、蓝帆、曾冉冉
22阈值电压测试电路、测试芯片、测试方法和可读存储介质发明专利实质审查的生效、实质审查的生效、公布CN202510631171.22025-05-16CN120148599A2025-06-13王同营、于天祺
23探针卡针尖状况检测方法、结构、晶圆以及晶圆测试方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202510517717.12025-04-24CN120044341B2025-07-18陈海平、林均铭
24测试方案生成方法及知识库构建方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510488799.12025-04-17CN120629852A2025-09-12王啸飞、姜辉、蒲怀建
25半导体设备文档生成方法、装置、计算机设备和存储介质发明专利公布CN202510488599.62025-04-17CN120764510A2025-10-10王啸飞、姜辉、蒲怀建
26用于电子设备的报警模拟与分析图形用户界面外观专利授权CN202530122735.02025-03-14CN310000170S2026-05-26詹昀谕、曹桫敏
27用于晶圆键合工艺检测的测试结构实用新型授权CN202520003257.62025-01-02CN223712767U2025-12-23黄琦
28半导体栅极侧墙厚度测试方法、结构、装置及存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411795950.82024-12-09CN119297105B2025-04-01陈海平
29基于测试结构设计的绕线方法、绕线装置和可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411688634.02024-11-25CN119203909B2025-04-08俞姚杰、杨璐丹、潘伟伟
30探针针压自动控制装置和晶圆接受测试系统发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411678454.42024-11-22CN119178914B2025-08-08陈海平
31ILD厚度监测结构实用新型授权CN202422857931.52024-11-22CN223450897U2025-10-17侯嘉慧、苌文龙、袁天浩
32一种用于监控注入阴影效应的测试结构实用新型授权CN202422629751.12024-10-30CN223414082U2025-10-03郑苗苗、苌文龙
33版图图形的插孔方法、装置、存储介质和仿真方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411441627.02024-10-16CN118966139B2025-07-01郭瑞琦、张永博
34基于空间索引的插孔方法、装置、存储介质和设备发明专利实质审查的生效、公布CN202411442992.32024-10-16CN121881961A2026-04-17张永博、郭瑞琦
35一种版图处理方法、装置和计算机可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411428046.32024-10-14CN118940711B2025-07-01张永博、郭瑞琦
36基于器件属性概率分布的器件选择方法、装置及存储介质发明专利发明专利申请公布后的驳回、公布CN202411411601.12024-10-11CN118942107A2024-11-12王同营、蓝帆
37基于器件属性概率分布的器件筛选方法、装置及存储介质发明专利发明专利申请公布后的驳回、公布CN202411411577.12024-10-11CN118942106A2024-11-12王山川、蓝帆
38版图文件拼接方法、装置和计算机可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411368670.92024-09-29CN118887085B2025-03-18施向波、张永博
39一种设计规则检查结果的过滤方法、装置及存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411357796.62024-09-27CN118862827B2025-02-25鲁海洋、方益
40晶圆数据处理方法、装置、芯片和计算机可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202411360685.02024-09-26CN119312101A2025-01-14万海洋、杨文浩
41晶圆数据处理方法、装置、芯片和计算机可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202411353880.02024-09-26CN119312185A2025-01-14万海洋、杨文浩
42数据处理方法、装置、芯片和计算机可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202411360549.12024-09-26CN119312247A2025-01-14万海洋、杨文浩
43一种版图结构自动抽取方法发明专利著录事项变更、授权、实质审查的生效、公布CN202411349066.12024-09-26CN118862807B2025-03-14彭焱、黄雁玲
44栅极多晶硅短接测试结构及其生成方法、装置和存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411346965.62024-09-26CN118858907B2025-03-18吴振雄、杨璐丹、林均铭
45栅极多晶硅断路测试结构及生成方法、装置、设备和介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411346862.X2024-09-26CN118858905B2025-03-18吴振雄、杨璐丹、林均铭
46一种半导体数据处理方法、分析方法、装置、计算机设备和存储介质发明专利授权、公布CN202411337215.22024-09-25CN118897856B2025-02-07贺祖辉
47一种焊盘间距调节方法、装置和存储介质发明专利授权、公布CN202411338584.32024-09-25CN118886387B2025-04-08方益、王莹雪
48用于电子设备的晶圆机台共性分析图形用户界面外观专利授权CN202430588307.22024-09-13CN309449732S2025-08-19黄存波、李敏、谢孟宇
49一种测试结构的版图形成方法、测试结构及可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411141382.X2024-08-20CN118657109B2025-03-21江家豪、林均铭、袁天浩
50半导体机台数据异常检测方法、装置及计算机设备发明专利授权、公布CN202411134809.32024-08-19CN118656764B2024-11-19王啸飞、姜辉、邱海祥、樊星、沈海超

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