3月21日消息,国家知识产权局信息显示,普冉半导体(上海)股份有限公司申请一项名为“闪存的制造方法”的专利,授权公告号CN115884597B,授权公告日为2026年3月20日。申请公布号为CN115884597A,申请号为CN202310034211.6,申请公布日期为2026年3月20日,申请日期为2023年1月10日,发明人叶晓,专利代理机构上海浦一知识产权代理有限公司,专利代理师郭四华,分类号H10B41/35、H10B41/41、H10B41/42。
专利摘要显示,本发明公开了一种闪存的制造方法,包括:步骤一、提供半导体衬底。步骤二、形成存储单元的第一栅极结构。步骤三、形成外围器件的第二栅极结构。步骤四、形成第一层侧墙,包括:步骤41、形成第一侧墙材料层。步骤42、形成第二侧墙材料层。步骤43、进行刻蚀以在各栅极结构侧面自对准形成第二子侧墙。步骤44、将存储单元区中各第二子侧墙都去除。第一子侧墙由位于各栅极结构侧面的第一侧墙材料层组成。第一栅极结构的第一层侧墙由侧面的第一子侧墙组成。第二栅极结构的第一层侧墙由侧面的第一和第二子侧墙叠加而成。步骤五、沉积加刻蚀工艺在各栅极结构的侧面自对准形成第二层侧墙。本发明能减少存储区侧墙宽度和同时增加外围区侧墙宽度。
天眼查数据显示,普冉半导体(上海)股份有限公司成立日期2016年1月4日,法定代表人王楠,所属行业为计算机、通信和其他电子设备制造业,企业规模为中型,注册资本14804.9102万人民币,实缴资本14804.9102万人民币,注册地址为中国(上海)自由贸易试验区银冬路20弄8号地下1层、地下2层、地下3层、2层、3层、4层、5层。普冉半导体(上海)股份有限公司共对外投资了4家企业,参与招投标项目4次,财产线索方面有商标信息35条,专利信息206条,拥有行政许可7个。
普冉半导体(上海)股份有限公司近期专利情况如下:
| 序号 | 专利名称 | 专利类型 | 法律状态 | 申请号 | 申请日期 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日期 | 发明人 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 一种温度检测电路与温度检测方法 | 发明专利 | 公布 | CN202511976904.2 | 2025-12-25 | CN121632388A | 2026-03-10 | 张明昊 |
| 2 | 一种主从设备写操作通信方法与通信系统 | 发明专利 | 公布 | CN202511866751.6 | 2025-12-11 | CN121614431A | 2026-03-06 | 李海镇 |
| 3 | 一种主从设备读操作通信方法与通信系统 | 发明专利 | 公布 | CN202511866758.8 | 2025-12-11 | CN121614432A | 2026-03-06 | 李海镇 |
| 4 | 一种多路运算放大器电路与系统 | 发明专利 | 公布 | CN202511852823.1 | 2025-12-10 | CN121690077A | 2026-03-17 | 赖文婷、李海镇、古炯钧 |
| 5 | 多电源域的电源管理方法、电源管理系统及电子设备 | 发明专利 | 公布 | CN202511791137.8 | 2025-12-01 | CN121657850A | 2026-03-13 | 庞杰 |
| 6 | 存储器擦写管理方法、装置、电子设备及存储介质 | 发明专利 | 公布 | CN202511728194.1 | 2025-11-24 | CN121636369A | 2026-03-10 | 李元金 |
| 7 | 一种失效线位冗余替换方法及设备 | 发明专利 | 公布 | CN202511684297.2 | 2025-11-17 | CN121545568A | 2026-02-17 | 郭宁、张涌 |
| 8 | 光学防抖马达的控制方法及装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511665126.5 | 2025-11-13 | CN121356422A | 2026-01-16 | 李斐、李海镇 |
| 9 | 箝位电压产生电路 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202510956751.9 | 2025-07-11 | CN120821322A | 2025-10-21 | 沈一鹤 |
| 10 | 位置传感器电路及摄像设备 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202510627319.5 | 2025-05-15 | CN120455817A | 2025-08-08 | 赖文婷 |
| 11 | 一种电荷泵电路与片上系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202510013206.6 | 2025-01-06 | CN119813769A | 2025-04-11 | 郑婕妤 |
| 12 | 芯片测试方法、测试设备、测试系统和存储介质 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202510007862.5 | 2025-01-03 | CN119881593A | 2025-04-25 | 董莎莎 |
| 13 | 一种闪存测试方法、装置、电子设备及存储介质 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202510010958.7 | 2025-01-03 | CN119920299A | 2025-05-02 | 赵凯 |
| 14 | 深沟槽隔离结构及其制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411945028.2 | 2024-12-27 | CN119864316A | 2025-04-22 | 薛小帅 |
| 15 | 深浅沟槽隔离结构与工艺 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411944892.0 | 2024-12-27 | CN119864315A | 2025-04-22 | 薛小帅 |
| 16 | 一种异常Flash芯片的筛选方法、装置、介质及设备 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411941229.5 | 2024-12-26 | CN119864073A | 2025-04-22 | 秦婷 |
| 17 | 芯片测试方法及装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411932458.0 | 2024-12-26 | CN119881590A | 2025-04-25 | 曹敬芳 |
| 18 | 引线框架及封装半导体 | 实用新型 | 授权 | CN202423228180.7 | 2024-12-26 | CN223728776U | 2025-12-26 | 许佩清 |
| 19 | 晶圆测试方法、装置、测试机和存储介质 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411924364.9 | 2024-12-25 | CN119619805A | 2025-03-14 | 黄丹鑫 |
| 20 | 位线干扰抑制电路、方法及存储器 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411924371.9 | 2024-12-25 | CN119785855A | 2025-04-08 | 叶晓 |
| 21 | 芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411928153.2 | 2024-12-25 | CN119847843A | 2025-04-18 | 李超 |
| 22 | 一种电压保持电路与片上系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411924375.7 | 2024-12-25 | CN119851701A | 2025-04-18 | 朱泽宇 |
| 23 | HSA引脚电阻值选择方法、装置和计算机可读存储介质 | 发明专利 | 授权、公布 | CN202411921613.9 | 2024-12-25 | CN119847840B | 2025-11-07 | 秦佳敏、王昊 |
| 24 | 保护环和封装结构 | 实用新型 | 授权 | CN202423188742.X | 2024-12-23 | CN223612426U | 2025-11-28 | 陈亮琦 |
| 25 | 芯片堆叠封装结构和封装产品 | 实用新型 | 授权 | CN202423192048.5 | 2024-12-23 | CN223624976U | 2025-12-02 | 陈亮琦 |
| 26 | 引线键合封装结构和封装产品 | 实用新型 | 授权 | CN202423185814.5 | 2024-12-23 | CN223624991U | 2025-12-02 | 陈亮琦 |
| 27 | 芯片堆叠封装结构和封装产品 | 实用新型 | 授权 | CN202423191977.4 | 2024-12-23 | CN223680097U | 2025-12-16 | 陈亮琦 |
| 28 | 一种基于开尔文连接的电阻测量方法及装置、系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411875958.5 | 2024-12-19 | CN119716257A | 2025-03-28 | 陈燕燕 |
| 29 | 芯片的成品测试方法、存储介质、测试设备和系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411847247.7 | 2024-12-16 | CN119535178A | 2025-02-28 | 金进 |
| 30 | 存储芯片的漏电处理方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411832081.1 | 2024-12-12 | CN119650419A | 2025-03-18 | 沈杨 |
| 31 | 过压控制电路、控制装置、存储设备以及控制方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411832063.3 | 2024-12-12 | CN119690195A | 2025-03-25 | 李祖渠 |
| 32 | 存储器操作方法及存储芯片 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411832066.7 | 2024-12-12 | CN119763632A | 2025-04-04 | 冯国友 |
| 33 | 降低小型存储芯片漏电的方法 | 发明专利 | 授权、公布 | CN202411832062.9 | 2024-12-12 | CN119763645B | 2025-11-07 | 沈杨、郭兵 |
| 34 | 非易失性存储器擦除方法、装置、电子设备及存储介质 | 发明专利 | 授权 | CN202411832064.8 | 2024-12-12 | CN119759276B | 2025-11-11 | 高会阁 |
| 35 | 存储器电路以及非易失性存储器 | 发明专利 | 授权 | CN202411832061.4 | 2024-12-12 | CN119763630B | 2025-11-11 | 谢飞、罗光燕 |
| 36 | 降低小型存储芯片漏电的方法 | 发明专利 | 授权 | CN202411832065.2 | 2024-12-12 | CN119763646B | 2025-11-25 | 沈杨、郭兵 |
| 37 | 模数转换器精度控制方法、装置、设备和介质 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411816250.2 | 2024-12-11 | CN119766239A | 2025-04-04 | 刘乐 |
| 38 | 一种建立晶圆测试温度环境的方法和系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411775171.1 | 2024-12-05 | CN119667429A | 2025-03-21 | 王昊 |
| 39 | 基于CORDIC算法的向量模长计算方法和系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411563043.0 | 2024-11-05 | CN119536685A | 2025-02-28 | 魏凯 |
| 40 | 一种半导体测试设备及测试方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411500752.4 | 2024-10-25 | CN119199453A | 2024-12-27 | 李超 |
| 41 | 一种晶圆测试结果处理方法、装置、设备及存储介质 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411285504.2 | 2024-09-13 | CN119170518A | 2024-12-20 | 秦婷 |
| 42 | 一种晶圆测试方法、装置、设备、系统及存储介质 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411285941.4 | 2024-09-13 | CN119208175A | 2024-12-27 | 秦婷 |
| 43 | 一种测试方法、装置及存储介质 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411285730.0 | 2024-09-13 | CN119208174A | 2024-12-27 | 秦婷 |
| 44 | 时钟频率的检测方法及装置、微控制器、计算机程序产品 | 发明专利 | 公布 | CN202410932994.4 | 2024-07-12 | CN118884171A | 2024-11-01 | 李承俸 |
| 45 | 一种存储芯片的筛选方法及装置、计算机程序产品 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202410904592.3 | 2024-07-08 | CN118824333A | 2024-10-22 | 赵凯 |
| 46 | 访问闪存的方法和控制装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202410808802.9 | 2024-06-21 | CN118626419A | 2024-09-10 | 薛思雨 |
| 47 | 闪存的制造方法及闪存 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202410808800.X | 2024-06-21 | CN118742038A | 2024-10-01 | 叶晓 |
| 48 | 闪存的制造方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202410808798.6 | 2024-06-21 | CN118742036A | 2024-10-01 | 叶晓 |
| 49 | 芯片测试方法、装置、测试机及存储介质 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202410521043.8 | 2024-04-28 | CN118425732A | 2024-08-02 | 李腾 |
| 50 | 一种自偏置锁相环系统及电子设备 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202410419726.2 | 2024-04-09 | CN118300603A | 2024-07-05 | 胡诗珂、陈涛 |
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