ADC芯片测试、FPGA机电物理仿真、Labview+大模型等|芯片测试线下技术研讨会（8月5日 苏州）
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2025-07-19 10:01:58
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来源：EETOP

NI一直致力于“在中国，为中国”，此次研讨会将聚焦LabVIEW最新技术和全新框架，新产品介绍及应用方案展示。同时，还根据城市产业特点，选择工程师和技术专家最感兴趣的话题，与NI资深研发同事进行深入交流，共同探讨测试测量新技术发展和应用。

苏州站即将起航，诚邀您相聚共破智能测试之局！

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